是指测试曲线上出现向上的台阶(正常的损耗是向下的台阶)、常发生在用模场直径大的光纤接续模场直径小的光纤的情况 、 此时是因为模场直径小的光纤引导反向散射光的能力比模场直径大的光纤强所致 、 从理论上讲 、 它不应算是真正的熔接损耗 、 应采取双向测试平均法来计算熔接点的真正损耗。
是指测试曲线上出现向上的台阶(正常的损耗是向下的台阶)、常发生在用模场直径大的光纤接续模场直径小的光纤的情况 、 此时是因为模场直径小的光纤引导反向散射光的能力比模场直径大的光纤强所致 、 从理论上讲 、 它不应算是真正的熔接损耗 、 应采取双向测试平均法来计算熔接点的真正损耗。